High Aspect Ratio
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Puntas de Silicio con alta relación entre la altura de la punta y su base para muestras con topografía muy rugosa.
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DLCS
Picos DLC Súper Afilados de Silicio y Radio de Curvatura Nominal de 1 nm para Alta Resolución
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
TESP-HAR
Puntas ESP de Silicio para Tapping con una relación de aspecto elevada.
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
TESP-SS
Puntas Súper Afiladas de Silicio y Radio de Curvatura Nominal de 2 nm.
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
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