NanoScope® IV
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El controlador NanoScope® IV de los microscopios SPM combina las características líderes de la industria del NanoScope IIIa y el NanoScope IV con mejoras revolucionarias del hardware y del software para permitir hasta una exploración diez veces más rápida, funcionalidad creciente, flexibilidad, y expansibilidad.
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
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NanoScope® IV
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Descripción:
El controlador NanoScope® IVa de los microscopios SPM combina las características líderes de la industria del NanoScope IIIa y el NanoScope IV con mejoras revolucionarias del hardware y del software para permitir hasta una exploración diez veces más rápida, funcionalidad creciente, flexibilidad, y expansibilidad. Estas capacidades no solamente mejoran la productividad y los resultados de los análisis de superficie, pero también proporcionan una plataforma a los usos avanzados de la nanociencia y de la nanotecnología.
Más rápido y barridos de alta resolución.
El controlador NanoScope IVa utiliza nuevo software sofisticado un lazo de retroalimentación anidado para permitir capacidades del actuador en Z. Estas mejoras liberan a la punta de prueba para moverse en la dirección Z con una velocidad sin precedente, que permite la visualización de imágenes más rápida con el modo de operación patentado. Nuevamente, TappingMode+ puede alcanzar velocidades de barrido hasta un orden de magnitud más rápidamente de lo que antes era posible. Puesto que, la característica del lazo de retroalimentación anidado reduce errores en el lazo de retroalimentación, el seguimiento de las cuestas y de las superficies irregulares se mejora substancialmente.
La nueva tecnología OneScan™ incorporada en el NanoScope IVa entrega información del orden de nanómetros en barridos tan grandes como diez micras. Puesto que puede recoger más de 4000 puntos por línea de exploración, investigadores pueden visualizar un área grande una vez y después hacer aumentos para medir detalles hasta el límite de resolución de la punta.
Capacidades de mediciones de fase sin comparación.
El NanoScope IVa tambien incorpora la tecnología Quadrex con detección lock-in y el seguimiento avanzado de señales para mapear la fase de la oscilación del cantilever durante un barrido. Esta técnica patentada, PhaseImaging™, va más allá de la información topográfica para detectar variaciones en composición, adhesión, viscoelasticidad, y otras propiedades.
El NanoScope IVa amplía las capacidades de PhaseImaging con el control Q (factor de calidad) de la punta. El valor de Q se puede aumentar para crear una cuesta más escarpada de la fase de la punta -contra-frecuencia, Esto permites la detección aún más sensible de la fase. La mejora en el factor de calidad puede también mejorar la visualización de Fase en materiales heterogéneos en agua, donde Q es suprimido normalmente por la humedad y alta viscosidad.
Personalización superior.
El controlador NanoScope IVa facilita el diseño de experimentos personalizados y el desempeño. Con el accesorio SBOB3- módulo de acceso de señales, el usuario tiene acceso a cada señal de entrada y salida entre el controlador y el microscopio. Esto permite la sincronización de una señal de entrada externa con las líneas de barrido y con los cuadros que forman las imágenes. Además, la señal de referencia del amplificador lock-in está disponible fácilmente. En cada faceta, el NanoScope IVa facilita el diseño de nuevas técnicas SPM, aplicaciones y equipos.
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Electrónica:
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Compatible con escáner SPM de lazo cerrado.
Doble canal lock-in con referencia interna sencilla (5V pico a pico expansibilidad disponible)
Rango de operación de 500 Hz hasta 2 MHz.
Ancho de banda del lock-in de 10 Hz hasta 15 KHz.
Resolución de fase de 0.2°.
Dos ADCs de ±10V y 14 bits.
Cuatro ADCs de ±10V y 16 bits (tres de los ADCs de 16 bits son seleccionables por software).
Velocidad de muestreo de 62.5 KHz (Tres disponibles cuando se usa la Cabeza Híbrida).
cuatro DACs auxiliares de 16 bits (tres con salidas de ±10V y una con salidas de ±12V y ±220V.
Señales de sincronía de fin de línea y cuadro TTL disponibles.
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Software:
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Proporciona control en tiempo real mientras se hacen barridos.
Velocidad de barrido, tamaño de barrido, y offsets ajustables (las calibraciones de los barridos permanecen constantes).
128, 256, 512, 1024, 2048, 4096, 8192, o 16384 muestras por líneas de barrido.
Habilitar/deshabilitar el movimiento del eje lento de barrido.
Ganancia ajustable, set point, frecuencia y amplitud de los parámetros de retroalimentación
Modos de retroalimentación seleccionables AFM y STM.
Corriente y voltaje seleccionable para STM.
Despliegue mejorado de los datos con 24 tablas de colores a elegir; rango dinámico continuamente ajustable de altura Z.
Captura continua de imágenes de barridos sucesivos de la misma área.
Barridos automáticos para captura de datos en arreglos seleccionables cuadrados o lineales.
Capturas automáticas de imágenes para realizar la calibración.
Control de ganancia de etapas para todas las señales de entrada que permite múltiples canalesde entrada.
Control activo del cantilever Q ± ajuste de un orden de magnitud.
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Utilerías accesibles por Menú:
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Editor de la tabla de colores.
Rutina de calibración automática.
Funcionalidad de impresión y PostScript®.
Funciones de importación y exportación ASCII y TIFF.
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Opciones de Hardware:
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Módulo de acceso de señales (SAM) para el acceso a cada una de las señales de entrada y salida entre el controlador y el microscopio.
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Computadora:
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Sistema Premium (pregunte por las actuales especificaciones.
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Requerimientos de espacio:
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Mesa de 30x60in. (75x150cm).
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Opciones:
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Módulo de Acceso de Señales.
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