NanoScope® V
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Nuevo Controlador NanoScope V. Más poder y capacidades para el MultiMode V, Dimension V, Nanoman V, y PicoForce.
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
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NanoScope® V
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Descripción:
El controlador NanoScope V entrega datos confiables, captura de imágenes a alta velocidad de alta densidad de píxeles (5000x5000), permitiendo que los investigadores registren y que analicen las interacciones entre puesta-muestra que sondea acontecimientos en la nano escala y los cuales fueron previamente inaccesibles a SPM. El NanoScope V permite hasta ocho imágenes ser simultáneamente desplegadas/capturadas con una relación señal/ruido sin precedente. El controlador incorpora tres amplificadores lock-in independientes, proporciona medidas termales de las frecuencias de resonancia de los cantilevers hasta 2MHz, produce el acceso fácil a la mayoría de las señales de entrada y salida a través del panel frontal mediante conectores BNCs, y soporta entrada de datos desde fuentes externas.
Además, el NanoScope V ofrece tanto funcionalidad del software y compatibilidad. Un extenso paquete de funciones se proporcionan para controlar el SPM para experimentos personalizados e investigación en la escala de los nanómetros. Estas funciones se pueden llamar también desde cualquier lenguaje de programación que pueda actuar como cliente de Microsoft's Component Object Model (COM).
Por lo último en simplicidad operacional, Easy AFM es una característica de uso que ofrece una interface gráfical del usuario intuitiva y fácil de seguir. Easy AFM reduce el tiempo para el ajuste inicial (incluyendo alineación de punta, láser, y detector), entrando en contacto la punta con la muestra, ajustando los parámetros de barrido, y obteniendo imágenes útiles y de alta calidad en Tapping en aire en la mayoría de las muestras con una mínima intervención del usuario.
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