Dimension V
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El SPM Dimension V de Digital Instruments utiliza técnicas de microscpía de fuerza atómica (AFM) y tunelamiento (STM) para medir características superficiales para obleas semiconductoras, máscaras de litografía, medios magneticos, discos compactos y DVD, materiales biológicos, y otras muestras de hasta 200 mm de díamatro.
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
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Dimension 3100
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Descripción:
El SPM Dimension V de Digital Instruments utiliza técnicas de microscpía de fuerza atómica (AFM) y tunelamiento (STM) para medir características superficiales para obleas semiconductoras, máscaras de litografía, medios magneticos, discos compactos y DVD, materiales biológicos, y otras muestras de hasta 200 mm de dímatro. Su sistema de alineación de láser y la capacidad de cambiar técnicas de barrido sin herramientas le garantiza flexibilidad, facilidad de uso, y un alto rendimiento.
El Dimension V incorpora la plataforma probada del Dimension 3100, es avanzado escáner híbrido XYZ, y el nuevo controlador NanoScope V, hanciendo un excelente sistema para visualización de alta resolución, nanolitografía de alta definición, y manipulación directa en la escala de los nanómetros. El escáner híbido XYZ del sistema proporciona un sensor Z con seis veces menos ruido, control preciso X/Y para manipulación de moléculas, y un control altamente preciso de lazo cerrado para las técnicas de "empuje".
El controlador NanoScope V entrega datos confiables, captura de imágenes a alta velocidad de alta densidad de píxeles (5000x5000), permitiendo que los investigadores registren y que analicen las interacciones entre puesta-muestra que sondea acontecimientos en la nano escala y los cuales fueron previamente inaccesibles a SPM. Además, el NanoScope V ofrece tanto funcionalidad del software y compatibilidad. Easy AFM es una característica de uso que ofrece una interface gráfica del usuario intuitiva y fácil de seguir.
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Documentación.
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Las especificaciones están sujetas a cambios sin previo aviso.
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