Equipos SPM
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Equipos de Microscopía SPM para las más diversas aplicaciones, partiendo de los microscopios de fuerza atómica de propósitos generales, hasta los especializados.
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Bioscope II
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ÁFM fácil de usar para biología que soporta un amplio rango de técnicas ópticas, incluyendo confocal invertido y TIRF. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
Caliber SPM
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El SPM Caliber de bajo costo y alto valor es el instrumento ideal de inicio para investigación y laboratorios industriales. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
Dimension 3100
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El Dimension 3100 proporciona a los investigadores la más reciente y expandible plataforma para barridos SPM tanto estándar y avanzada. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
Dimension V
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El SPM Dimension V de Digital Instruments utiliza técnicas de microscpía de fuerza atómica (AFM) y tunelamiento (STM) para medir características superficiales para obleas semiconductoras, máscaras de litografía, medios magneticos, discos compactos y DVD, materiales biológicos, y otras muestras de hasta 200 mm de dímatro. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
EnviroScope
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El microscopio de fuerza atómica EnviroScope™ resulta de la combinación de la mejor tecnología de barridos y sofisticados controles ambientales además de una cámara para la muestra que se encuentra herméticamente sellada, dando un poder y flexibilidad la exigente investigación de hoy día y la facilidad para usos en la industria. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
Innova
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Innova puede realizar barridos por debajo de la micra hasta un máximo de 90 micras, con un mecanismo de linealización de barrido de lazo cerrado que se acerca a niveles de lazo abierto, todo sin la necesidad de cambiar escáner. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
MultiMode
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El MultiMode® de Digital Instruments es el microscopio comercial SPM con la más alta resolución en el mundo y la mayoría de las aplicaciones probadas. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
MultiMode V
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El MultiMode V de Digital Instruments representa la siguiente generación del SPM más probado y mejor vendido del mundo. Realiza el rango completo de técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM) y tunelamiento (STM) para mediciones de carcterísticas superficiales como topografía, elasticidad, fricción, adhesión, campos eléctricos y magnéticos. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
NanoMan VS
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Sistema de Visualización, Nanomanipulación y Nanolitografía. (REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
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