MultiMode V
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El MultiMode V de Digital Instruments representa la siguiente generación del SPM más probado y mejor vendido del mundo. Realiza el rango completo de técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM) y tunelamiento (STM) para mediciones de carcterísticas superficiales como topografía, elasticidad, fricción, adhesión, campos eléctricos y magnéticos.
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)
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MultiMode V
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Descripción:
El MultiMode V de Digital Instruments representa la siguiente generación del SPM más probado y mejor vendido del mundo. Realiza el rango completo de técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM) y tunelamiento (STM) para mediciones de carcterísticas superficiales como topografía, elasticidad, fricción, adhesión, campos eléctricos y magnéticos. Un pequeño camino mecánico entre la punta y la muestra proporciona velocidades de barrido muy altas con la mayor precisión.
El controlador NanoScope V entrega datos confiables, captura de imágenes a alta velocidad de alta densidad de píxeles (5000x5000), permitiendo que los investigadores registren y que analicen las interacciones entre puesta-muestra que sondea acontecimientos en la nano escala y los cuales fueron previamente inaccesibles a SPM. Además, el NanoScope V ofrece tanto funcionalidad del software y compatibilidad. Easy AFM es una característica de uso que ofrece una interface gráfica del usuario intuitiva y fácil de seguir.
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