SHOWROOM DE: VEECO

MultiMode®


El MultiMode® de Digital Instruments es el microscopio comercial SPM con la más alta resolución en el mundo y la mayoría de las aplicaciones probadas.
(REQUIERE COTIZACIÓN PREVIA)



MultiMode®

Descripción:

El MultiMode® de Digital Instruments es el microscopio comercial SPM con la más alta resolución en el mundo y la mayoría de las aplicaciones probadas. Un poderoso software y amigable al usuario, además de un diseño compacto del hardware le permite tomar imágenes con información desde micras hasta escala atómica. Su productividad probada, flexibilidad y confiabilidad lo han hecho el estándar en la investigación de materiales, biología, y polímeros.

Cada faceta de la electrónica del sistema MultiMode y el diseño mecánico ha sido optimizado para obtener la resolución más alta, incluyendo un tamaño compacto, una construcción libre de vibraciones mecánicas, y electrónico de un nivel de ruido muy bajo. Su poderoso controlador brinda una resolución de 16 bits en los 3 ejes con convertidores digitales análogos independientes por cada eje. La alta resolución y productividad del MultiMode ha permitido mayor cantidad de publicaciones científicas que aquellas obtenidas por SPM de las competencias juntas.

El MultiMode tiene múltiples scanner que le permiten al usuario ajustar el sistema a sus necesidades. Los escáneres con rangos de barrido de hasta 120 micras en los ejes ¨X¨ y ¨Y¨ y 6 micras en el ¨Z¨, así como barridos pequeños de 0.5 micras en los ejes x, y y menos de una micra en el eje ¨Z¨ con la más alta resolución.

Los escáners de aterrizaje vertical ¨JV¨ y ¨EV¨ le permiten posicionar la punta en cualquier lugar de la superficie sin tener que ajustar el movimiento lateral de la punta durante la aproximación. Adicionalmente el sistema PicoForce MultiMode tiene un lazo cerrado en el eje ¨Z¨ para mediciones avanzadas de curvas de fuerza.

El MultiMode realiza un rango completo de técnicas SPM para la caracterización de superficies tales como topografía, elasticidad, fricción, adhesión, campos eléctricos y magnéticos:

* Modo Tapping AFM.

* Modo Contacto AFM.

* Phase Imaging.

* Microscopía de Fuerza Lateral (LFM).

* Microscopía de Fuerza Magnética (MFM).

* Microscopía de Tunelamiento (STM).

* Modulación de Fuerza.

* Microscopía de Fuerza Eléctrica (EFM).

* Scanning Capacitance Microscopy (SCM).

* Microscopía de Potencial de Superficie.

* Mediciones de Fuerza-distancia y Volumen de Fuerza.

* Nanoidentación / Razgado.

* Microscopía electroquímica (ECSTM and ECAFM).

* PicoForce Force Spectroscopy.

* Tunelamiento AFM (TUNA).

* AFM Conductivo (CAFM).

* Scanning Spreading resistance Microscopy (SSRM).

Y muchas técnicas mas.


Especificaciones:

Desempeño:

Microscopio

Cabeza MultiMode SPM; con elección de escáners

Ruido

<0.3Å RMS en la dimensión Z con mesa anti vibratoria.

Tamaño de muestra

≤15 mm diámetro; ≤ 5 mm espesor.

Porta puntas

* Tapping / contacto en aire (estandar).

* Tapping / molulación de fuerza en fluidos (opcional).

* Modulación de fuerza en aire (opcional).

* Campo eléctrico (opcional).

* Barrido térmico (opcional).

* Convertidor STM (opcional).

* Convertidor STM de baja corriente (opcional).

* Celda de fluidos en contacto (opcional).

* Celda de electroquímica AFM en fluidos (opcional).

* Celda de electroquímica STM en fluidos (opcional).

* Celda de electroquímica Tapping en fluidos (opcional).

Aislamiento acústico y de vibraciones

* Base de silicon proporcionada con un cubierta acústica (estándar).

* Tripié para aislamiento de vibraciones (opcional).

* Mesa anti vibratoria. (opcional).

* Cámara acústica con mesa antivibratoria (opcional).


Controladores:

* NanoScope E.

* NanoScope IIIa.

* NanoScope IV.

* NanoScope IVa.


Modos de Operación:

* Contacto.

* Tapping.

* Microscopía de Fuerza Lateral.

* Fase.

* Microscopía de Fuerza Magnética (MFM).

Opciones

* Tunelamiento (STM).

* Convertidores STM y STM de baja corriente.

* Escáneres piezoeléctricos.

* Accesorios de Temperatura.

* Electroquímica STM.

* Electroquímica AFM.

* SECPM.

* Módulos de Aplicaciones Electrónicas.

* Control Ambiental.

* Celda de fluidos.

* Unidad Actuada Magnéticamente.

* Microscopio óptico para la observación simultánea de la muestra y punta en pantalla.

* Detección de Fase.

* Módulo de Acceso de Señales.

* Evaluación de la punta.

* Torsion Resonance Mode (TRmode)

y otras...



Documentación.


Folleto (MultiMode) - Inglés

 		485 KB


Las especificaciones están sujetas a cambios sin previo aviso.

Atras


Jr. Pariacoto Nº 1151 Breña Telf: 423-6568 / 424-0381 / 423-4912 Telefax: 423-6568